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高頻介質損耗（介電常數(shù)）測試系統(tǒng)依據(jù)國標GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美標ASTM D150以及電工委員會IEC60250的規(guī)定設計制作。系統(tǒng)提供了絕緣材料的高頻介質損耗角正切值（tanδ）和介電常數(shù)（ε）自動測量的*佳解決方案。
時間：2024-06-04
型號：HJS-I
廠商性質：生產廠家
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